近日,中国科学技术大学潘建伟、张强、徐飞虎等人联合美国麻省理工学院、中国科学院西安光学精密机械研究所等单位,取得一项重大科研突破 —— 首次提出并实验验证主动光学强度干涉技术合成孔径技术,成功实现对 1.36 公里外毫米级目标的高分辨成像,实验系统成像分辨率较干涉仪中单台望远镜提升约 14 倍。相关成果发表于国际顶级期刊《物理评论快报》。
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